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抑菌圈自动测量分析仪PCB抄板及产品的全套克隆案例实例

　　该款抑菌圈自动测量分析仪采用CCD扫描仪获取图像，同时可完成六个检品（碟子）的测量分析，通过USB接口和微机连接。Windows 操作系统，采用现成CCD与高精度少扫描原理获取图像。 它是深圳龙芯世纪PCB抄板中心通过反向技术研发而成的，较原机毫不逊色。


　　技术参数：
　　平皿测量范围 1～100mm
　　测量平皿直径 0～50 mm
　　扫描速度 2400dpi，12ms/线
　　六碟平皿测量时间 ≤5秒，单碟测量时间≤1秒
　　测量 单次六碟测量，测量面积210×297mm
　　分辨率 ≤ 0.001mm
　　重复测量精度 ≤0.002mm
　　效价测量精度 ≤0.3%
　　效价重复测量精度 ≤0.3%
　　台间误差 ≤0.2%
　　深圳龙芯世纪长期从事PCB抄板、芯片解密、电路板克隆、样机制作及电子设备仿制等反向技术研发，是目前国内最大最权威的，专业从事反向技术研发的商业性机构。欢迎有相关需求的朋友来电咨询及洽谈！

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